（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201010186500.0 （22）申请日 2010.05.27 （71）申请人 复旦大学
地址 200433 上海市邯郸路220号
（10）申请公布号 CN101865977A
（43）申请公布日 2010.10.20
（72）发明人 付勇;陈利光;王健;王元;来金梅 （74）专利代理机构 上海正旦专利代理有限公司
代理人 陆飞
（51）Int.CI
G01R31/3185;
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
基于查找表结构的FPGA可编程逻辑单元的遍历测试方法
（57）摘要
本发明属于集成电路技术领域，具体涉及
一种基于LUT(查找表)结构的FPGA(现场可编程门阵列)器件的CLB(可编程逻辑单元)的遍历测试方法。包括：对LUT的单点故障的遍历测试，对LUT的多点故障的测试，对分布式RAM的遍历测试，对触发器的赋初值为0或则为1，置位、复位端电平固定，使能无效等，置位，复位，使能的遍历测试等。本发明能够完成对FPGA芯片内所
有CLB的面向制造的测试，可以覆盖CLB内部所有的基本逻辑器件、可编程码点、内部互联资源。测试所需要的配置次数、配置难度和测试时间都能得到极大地优化。
法律状态
法律状态公告日
2010-10-20 2011-05-04 2015-11-25
法律状态信息
公开
实质审查的生效 授权
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公开
实质审查的生效 授权
权利要求说明书
基于查找表结构的FPGA可编程逻辑单元的遍历测试方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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