专利名称：一种大口径精密轮廓测量系统专利类型：实用新型专利
发明人：丁海鹏,王国安,孙久春,吴伟锋,周飞申请号：CN201621460735.3申请日：20161229公开号：CN206311075U公开日：20170707
摘要：本实用新型公开了一种大口径精密轮廓测量系统，包括光源、发射镜头、成像镜头、光电探测器和信号处理单元，所述光源、发射镜头、成像镜头和光电探测器垂直于主光轴依次排列；所述光源与发射镜头位于被测物体的前端，形成发射端；所述成像镜头和光电探测器位于被测物体后端，形成反射端；所述光电探测器与信号处理单元相连，所述光源发射的光线经过发射镜头匀光和准直后，照射到被测物体上后发生反射、散射和吸收之后，未被被测物体遮挡的光线被成像镜头接收，在光电探测器上形成物体的轮廓信号并传输至信号处理单元处理。本专利兼有高精度、高稳定性，较大口径、较低成本及非接触测量等优点，特别适合于物体的轮廓检测。
申请人：海伯森技术(深圳)有限公司
地址：518100 广东省深圳市宝安区西乡街道银田路4号智谷科技园A座526室
国籍：CN
代理机构：苏州中合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：李中华
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