专利名称：一种自动校正质谱同位素分布曲线的方法专利类型：发明专利发明人：贺敏,洪亮
申请号：CN201910602923.7申请日：20190704公开号：CN110320297A公开日：20191011
摘要：本发明涉及一种自动校正同位素分布的方法，所述曲线(棒状)质谱数据来源于色谱‑质谱联用仪器，其中包括对质量轴和同位素丰度两个因素的优化，两个因素的准确度对目标化合物分子式的推导具有决定性的意义。所述方案通过：1)利用局部最小值检测(天然)内标峰或待校峰的起止色谱区域；2)在感兴趣域各采样点的质谱中，解析目标离子的同位素结构，计算质量轴和同位素丰度的平均值；3)通过最小二乘多项式拟合建立误差校正函数，并应用于待校正离子的误差计算；4)校正值经高斯盒子转换为校正后的同位素曲线。所述方案能自动地校正不同层次MS仪器的曲线或棒状模式数据，可以选择不加入外源性内标化合物，只需单次测试，且校正结果可靠。
申请人：湘潭大学
地址：411105 湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘27号
国籍：CN
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容