专利名称：用于发光显微镜查找芯片缺陷的信号转换装置专利类型：实用新型专利
发明人：单兰婷,陈燕宁,张海峰,聂琪鹤,李伯海申请号：CN201320712988.5申请日：20131112公开号：CN203551734U公开日：20140416
摘要：本实用新型公开了一种用于发光显微镜查找芯片缺陷的信号转换装置，包括：PCB板，该PCB板中间开有窗口部分，该窗口部分为用于粘贴芯片的透明材质，该透明材质为薄玻璃或硬塑料板。本实用新型是用于发光显微镜查找芯片缺陷的信号转换装置，通过PCB板的转换，实现了芯片引脚的转换，完成与原有测试板的对接，对芯片加载了动态信号；该信号转换装置在提供动态测试的同时，可以兼顾静态测试，可以在动态测试前后，进行IV曲线的测量；本实用新型是用于发光显微镜查找芯片缺陷的信号转换装置，还可以兼顾多种芯片尺寸和PCB板数量，对不同尺寸和PCB板数量的芯片进行测试。
申请人：国家电网公司,北京南瑞智芯微电子科技有限公司
地址：100031 北京市西城区西长安街86号
国籍：CN
代理机构：北京中誉威圣知识产权代理有限公司
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