专利名称：厚膜电路的视觉检测方法及系统专利类型：发明专利发明人：周国烛,于京
申请号：CN201410336690.8申请日：20140715公开号：CN105335954A公开日：20160217
摘要：本发明公开了一种厚膜电路的视觉检测方法及系统，其中，方法包括：采集待测电路基片的原始图像，对待测电路基片的原始图像进行处理，将待测电路基片的原始图像转化为可识别的只包含线路的基片线路骨骼图像，统计基片线路骨骼图像中的线路连接分量的数量，根据线路连接分量的数量判断待测电路基片中的线路连接是否存在短路和/或断路。本发明的厚膜电路的视觉检测方法及系统，实现了自动化的厚膜电路视觉检测，检测效率高，准确性好。
申请人：周国烛,于京
地址：100015 北京市朝阳区将台路2号北京电子科技职业学院
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：李芙蓉
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