（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201210487216.6 （22）申请日 2012.11.26
（71）申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所
地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
（10）申请公布号 CN102937573A
（43）申请公布日 2013.02.20
（72）发明人 蔡晓林;魏劲松
（74）专利代理机构 上海新天专利代理有限公司
代理人 张泽纯
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
Z扫描光学非线性测量装置和测量方法
（57）摘要
一种Z扫描光学非线性测量装置和测量方
法，本发明可以实现两个激光波长的测量，光源既可以是连续光，也可以是脉冲光，且脉冲宽度和重复频率可调；入射激光功率从0到100%连续可调；装置中的光隔离器能有效消除光学元件及待测样品表面反射光对激光器的影响，使得测量结果准确可靠；旋转λ/4波片可以测量线偏振、圆偏振、椭圆偏振态激光作用下样品的非线性光学参数；调节光路，改变两束光的相对强度可以
实现双色时间分辨的非线性吸收和折射测量；调节泵浦光和探测光的偏振态可以测量不同偏振态激光作用下样品的时间响应特性；能够同时测量透射开孔、透射闭孔和反射开孔数据，不仅适用于测量透明样品，也适用于测量半透明样品。
法律状态
法律状态公告日
2013-02-20 2013-03-27 2015-05-13
法律状态信息
公开
实质审查的生效 授权
法律状态
公开
实质审查的生效 授权
权利要求说明书
Z扫描光学非线性测量装置和测量方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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