您的当前位置:首页正文

半导体晶圆的清洗装置及其清洗方法

2021-08-01 来源:步旅网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201110228144.9 (22)申请日 2011.08.10

(71)申请人 无锡华润上华科技有限公司

地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号

(10)申请公布号 CN102921656A

(43)申请公布日 2013.02.13

(72)发明人 顾英

(74)专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公司

代理人 唐立

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

半导体晶圆的清洗装置及其清洗方法

(57)摘要

本发明提供一种半导体晶圆的清洗装置及

其清洗方法,属于半导体芯片制造技术领域。该清洗装置包括水温控制模块,其可以将用于清洗所述半导体晶圆的水控制在42℃至48℃之间。在清洗过程中,用于清洗所述半导体晶圆的水被设置在42℃至48℃。该清洗装置使用该清洗方法时,晶圆的清洗效果好。

法律状态

法律状态公告日

2013-02-13 2013-03-20 2016-07-06

公开

法律状态信息

公开

实质审查的生效

发明专利申请公布后的驳回

法律状态

实质审查的生效

发明专利申请公布后的驳回

权利要求说明书

半导体晶圆的清洗装置及其清洗方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看

说明书

半导体晶圆的清洗装置及其清洗方法的说明书内容是....请下载后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容