专利名称：存储器的测试方法专利类型：发明专利发明人：任栋梁,钱亮
申请号：CN201810209621.9申请日：20180314公开号：CN108346451A公开日：20180731
摘要：本发明公开了一种存储器的测试方法，所述存储器具有n个测试项目，所述测试方法包括对测试项目i进行N次判断，其中，1≤i≤n，1≤N≤100，且i和N均为整数；当i小于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则进入测试项目i+1的测试；当i等于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则判断所述存储器为合格品；当N小于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则进行对所述测试项目i的第N+1次判断；当N等于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则判断所述存储器为不合格品。这样的测试方法可以大幅度提高测试稳定性，大大降低误判率，从而提高产品良率。
申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
地址：201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
国籍：CN
代理机构：上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：屈蘅
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