均匀设计在多响应线性模型失拟检验中的最优性
2023-04-27
来源:步旅网
维普资讯 http://www.cqvip.com 第3 6卷第2期 2 0 0 7年4月 上海师范大学学报(自然科学版) Journal of Shanghai Normal University(Natural Sciences) Vo1.36.No.2 2 0 07,Apr. 均匀设计在多响应线性模型失拟检验中的最优性 张宣昊,岳荣先 (1.上海第二工业大学理学院,上海201209;2.上海师范大学数理信息学院,上海200234) 摘要:运用Khuri(1985)组合响应的方法,将Wiens(1991)的结论推广至多响应情形.证明 均匀设计在对多响应线性模型作显著性检验时,在模型失拟情况下使检验的功效函数最小值 达到最大,在模型未失拟情况下使检验的功效函数最大值达到最小. 关键词:多响应线性模型;失拟检验;均匀设计 中图分类号:O212.6 文献标识码:A 文章编号:1000.5137(2007)0242012-05 O 引 言 本文作者考虑多响应线性模型失拟检验的统计试验设计问题.关于失拟检验的试验设计问题,文献 中已有一些研究工作,Jones和Mitchell(1978)研究了单响应情况下失拟检验的试验设计,Wijesinha和 Khuri(1987)研究了多响应情况下失拟检验的试验设计,其中包括最优设计准则、等价性定理以及构造 方法.这些研究工作都是针对假定的模型实际存在失拟的情况而进行的.本文讨论当模型失拟部分只是 试验水平的函数,无论所拟合的模型是否存在失拟.证明:对于多响应线性模型,当模型实际上失拟 时,均匀设计使检验功效函数(认为模型失拟的概率)的最小值达到最大;当模型实际上并不失拟时,均 匀设计使检验功效函数的最大值达到最小.即用均匀设计对多响应线性模型进行失拟检验是最优的. 1模型转换及失拟定义 在设计区域.s上,设在任一试验水平 处的各响应观测Y ( ),i=1,…,r,可用下列模型描述: Ey ( )= 。 ( )=厂 ( ) + ( ), =1,…,r, (1) 其中 为P 维已知函数向量, 为P 维未知参数向量.现令 ),( )=(Y ( ),…,Y,( )),厂 (戈)=(厂 ( ),… ( )), =aiag(/3 一, ,),z(x)=( ( ),…,。,( )), 记p=∑P ,则模型(1)可表示为: Ey( )= ( )=厂 ( ) + ( ). (2) 假设y(x)服从正态分布,其协方差阵为 =( )…. 假定所需拟合的模型为 收稿Et期:2007-01-08 基金项目i国家自然科学基金项目(10271078);上海高校选拔培养优秀青年教师科研专项基金项目(YQ3O6OO4); 上海市教委科研项目(05DZ03);教育部高校博士点专项科研基金项目(20060270002). 作者简介:张宣昊(1981一),男,上海第_-SNI,大学理学院助教.岳荣先(1958一),男,上海师范大学数理信息学 院教授. 维普资讯 http://www.cqvip.com 第2期 张宣吴,岳荣先:均匀设计在多响应线性模型失拟检验中的最优性 1 3 , ( )=f (x)13 , =1,…,r_ /x ( )=f (,013. (3) (4) 令 ( )=( ,。( ),…, ,,( )),将模型(3)表示为: Khuri(1985)提供了一种多响应线性模型检验方法,将多响应线性模型的各响应进行适当的线性组 合,使其转化为单响应线性模型,而后作 一检验.具体作法如下: 设有非零r×1维常数向量c=(c “,c,) ,对模型(2)作变换,令Y ( )=,,( )c, ( )= (x)c,类似地对模型(4)作变换,令 , ( )= ( )c,则真实模型(2)和拟合模型(4)转换为: ( )= ( )=厂 ( )卢 + ( )=∑c ;( )卢;+∑Ci。;( ), , (5) (6) ( )=f ( )卢 =∑cf ( )卢 , 其中13 =JB c=(c,31 “,c ,) 是P维参数向量, ( )=z(x)c,而var(y ( ))=var(y(x)c)= , 其中 :=c =∑ci2 +2∑Ci . 对一个有』v次观测的设计 ,令 ( =1,…,r)是模型(3)的各响应的设计阵,令F=( 失拟检验统计量是A (G Gi ),其中A (・)表示矩阵的最大特征值,而 Gl=Y (,『v— 0( 0 0)-1 0 一 )Y, G2=Y KY, “, ),其维数为N×P,设rk(F)=q.令 为 各列的基构成的矩阵,其维数为N×q.对模型(6)的 Y是设计 之下的响应观测值矩阵,维数为N×r,K=diag(K1,…,K,0),维数N×N,0是(Ⅳ一 )× (N一 )维全0矩阵, = 一(1/v ) , 。是 ×V 单位阵, 是V × 全1矩阵,( =1,…, ), 其中n, , 定义如下:对有』v次观测的设计 ,其中不妨设有n个试验水平有重复试验,各重复 次 ( =1,…,n),且 =∑ ,其余N一 个试验水平无重复试验.Khuri(1985)确定线性组合系数向量 c为A (G Gi )对应的标准特征向量,如果检验结果显示单响应模型(6)失拟,则认为原多响应模型 (4)失拟. 以下部分利用统计量A (G。 )讨论均匀设计在多响应线性模型失拟检验中的优良性. 取c为A (G Gi )对应的标准特征向量,则模型(6)的 统计量为: 篆=A (G。Gi )服从非 中心F分布,根据Wiens(1991)的讨论,单响应线性模型显著性检验的功效是非中心参数的增函数.为 确定非中心参数,将模型(5)和(6)表示为: E yc=Uc.。= Uc. +z , 。, (7) (8) = 其中yc=Yc Z。=Zc,Z是N×r矩阵,其各行为 中试验水平 对应的z(x).模型(8)对应的 检验 统计量的非中心参数为: ( , )= z。 (,『v— 0( 0 0)I1 0 )Z . (, (9) 现在定义模型在真实情况下的失拟及不失拟:根据Wiens(1991),相对于真实模型(5),当z ( ) ∈ 时认为模型(6)失拟,其中 为满足以下条件的 ( )组成的集合: ) S ( CiZi) dx≥田 , 2。. ) ( )ax;f (∑c ) ) =0 . 当 ( )∈Zc时认为模型(6)不失拟,其中 中的 ( )满足以上条件2及与1相反的条件(不等号 维普资讯 http://www.cqvip.com 14 上海师范大学学报(自然科学版) 2007年 反向).这里田 为常数. 类似于Wijesinha和Khuri(1987)采用的定义方式,定义相对于真实多响应模型(2)而言多响应模 型(4)的失拟情况.当z( )∈Z 时,认为模型(4)失拟,其中z 为满足以下条件的z( )组成的集合: ’ . . r 。-上z( )z ( ) z ≥ , 2。.f ( ) ( )dx=0pfx , i=l,…r, =l,…r. 其中 与上述一致,当z( )∈Z一时认为模型(4)并不失拟,其中z一中的z( )满足1 ̄2 1-条件2及与 l相反的条件(不等号反向). 以下说明模型(6)和(4)失拟之间的关系: l O. ( ) ( ) =0, ,…r, =l,…r )z ( )dx=0, 20.由柯西不等式:( 。 ) ≤( 。 )( z ),其中c为标准特征向量,即 c =1,所以 c ) ≤∑zi ,故有:f ∑z ≥f (∑c ) dx. =1 :1 i:1 根据l。,2。,当f。 i ∑z ≥f (∑Ci ) dx≥ 时,且 ( ) ( )dx=0;i=l,…r; =l,…r(必 :1 i:1 有:J )z ( )dx=0),则多响应模型(4)和单响应模型(6)失拟,其失拟状况一致.此时希望找到一 个设计在检验单响应模型(6)(即检验多响应模型(4))时,使得检验的功效(认为模型失拟的概率)达 到最大.当 ≥f o ∑zi ≥f (∑Ciz ) dx时,且f ( ) ( )dx=0;i=l,…r; =l,…r,则多响 :1 i=1 应模型(4)和单响应模 ̄YJ(6)不失拟.此时希望找到一个设计在检验单响应模型(6)(即检验多响应模 型(4))时,使得检验的功效(认为模型失拟的概率)达到做小.采用设计的近似理论,以下所指的设计 是设计域上的一个概率测度,即 满足J嘶( )=1. 2均匀设计的最优性 为了对多响应模型(4)进行失拟检验,先将模型(4)转化为单响应模型(6).考虑以下问题: l。.选择一个设计 ,使非中心参数6在 上的最小值达到最大,即: (Zc, ), 此即表示当原模型失拟时,要求设计使检验出模型失拟概率的最小值达到最大. 2。.选择一个设计 ,使 将6在 上的最大值达到最小,即 2=mf in maxS(z , ), .ZE 。。 此即表示当原模型不失拟时,要求设计使检验出模型失拟概率的最大值达到最小. 以下将证明:以上两个设计测度 与 都是设计域.s上的均匀分布.为此,对于.s上的任一设计测 度 ,定义: Be p )厂 ( ) 则有: (Zc, ) )厂 ( ;) ( ),6 p ;) ( ) J ) ( 。)喈( )・ ( ) ( )一6 f 6 f= ( ). ”,v—Fo(Fo ) Fo,)z = 维普资讯 http://www.cqvip.com 第2期 张宣吴,岳荣先:均匀设计在多响应线性模型失拟检验中的最优性 1 5 从而 (Zc, )为失拟检验统计量的非中心参数.注意到 ( )=f zo( )一厂 (x)Bi b f] ( ), 即 ( 。, )为 ( )到厂 ( )卢 的£ 一距离,说明用 ( 。, )衡量单响应模型(6)是否失拟是合理的. 对于S上的均匀设计测度A,有dA( )=dx,b =0,所以 (= ,A)= +( )dx. +n ̄h(。 ,A),即对 m in ̄h(。 , )≤ 定理1对任意设计 ,存在 ( )∈ ,使 ( , )≤叼 =m i(ZvO, )≤m in ̄b(z ,A). .证明首先,当 ( )∈ 时, ( 。,A)= ( ) ≥叼 ・所以叼 =m in ̄h(Zc,A)・ 对于s上的任一设计测度 ( 是区别于A的正Lebesgue测度),设u是相当于 ( )一A( )的测 度,根据Hahn分解定理,存在一个可测集 s,且v(A )>0,则A 的补集 =s 有v(A )<0,从 而有 A(百)= (百)一u(百)> (百)≥0, 并且有分解式:百=u 曼 ,其中A(A。)>0,i=2,…,P+2.令 =v(A。),则 1>0≥ 2,…, , D+2 且∑ ;=0.令 =( z,…, P+2) 是以下方程的非零解 p“ . ∑ 。f.厂( )dx=0. 令 p+2 D+2 (10) Zv0( ; )=叼∑ ,A ( )/(∑a ̄a(A )) , 其中,A。( )是示性函数,则 2。(x;a) ∈ ,这是因为 p+2 . 叼 ,又由(10)式得 ) ( ; ) =0,所以有ZcO(‘; ) p+2 Jf S ( ; ) ( )一 2(J S ; )dx=叼 ∑ 2 /∑ A(i ;)≤0.:2 从而有 ( , )≤J 2( ; )d ( )≤叼 ,定理证毕. 定理2对任意设计 ,存在 。 ( )∈ ,使 ( )≥ ( 。 , )≥m axq,(z。,A). )≥叼 : x ( ,A),即对任何 ,max (。 , 证明 当 ( )∈ 时, ( ,A) ( )dx≤’7 ・所以'7 =m a x ( A)・ 设 和u如定理l所定义.取一个可测集B S,且u(A )<0,则B 的补集B =S\B 有u(B )> 0,则类似定理l有 ( )>A( )>0.从而有分解式: =u 2p +2  ̄ ,其中A(B。)>0,i=2,…,2p +2. 2p+2 令 =v(B;),则 >0≥ ,…, 2Pm且∑ ;=0.令0=(02,…, +z) 是以下方程的非零解 2p+2 +2 ∑0。f厂( ) =0,∑0i f一厂( ) ( )=0. i=2 Bl i=2 B1 (11) 令 2p+2 。 2p+2 ( ; )=叼∑ j( )/(∑ A( ) , 维普资讯 http://www.cqvip.com l6 上海师范大学学报(自然科学版) 其中 ( )是示性函数,则f/ ( ; ) =叼 ,又由(11)式得 ) ( ; ) = ) ( ; )蟛( ) =0,所以有z (・; )∈ ,这是因为 2p 2( ; ) ( )一 ( ; ) = ∑i=2 +2 2p /∑i=2+2 A( ≥o. 由此可得: ( , )= z ( ; ) ( )≥ .定理证毕. 参考文献: WIENS D P.Designs for approximately linear regression:two optimality properties of uniofrm designs[J].Statistics and Probability Letters,1991,12:217—221. [2] JONES E R,MITCHELL TJ.Design criteria orf detecting model inadequacy[J].Biometirka,1978,65:541—551. JESINHA M C,KHURI A I.Construction of optimal designs to increase the power of the muhiresponse lack of ift test [3] WI[J].Statistical Hanning and Inference,1987,16:179—192. [4] KHURI A I.A test for lack offit of a linear muhiresponse model[J].Technometrics,1985,27:213—218. The optimality of uniform designs of the test for lack 0f fit of linear multiresponse models ZHANG Xuan—hao ,YUE Rong.xian (1.College of Sciences,Shanghai Second Polytechnic University,Shanghai 201209,China; 2.College of Mathematics and Sciences,Shanghai Normal University,Shanghai 200234,China) Abstract:The paper extends het result of Wiens(1991)to the muhiresponse mode1.It is shown that the uniform design maximi— ZeS the minimum power of he statndard test for lack of fit when the model is lack of ift and minimizes the maximum power when he model its true. Key words:linear muhiresponse model;lack of ift;uniform desin g(责任编辑:冯珍珍)