专利名称：一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系
统
专利类型：实用新型专利
发明人：徐德,丁宇洁,王艳茹,冉铮惠申请号：CN201820605681.8申请日：20180426公开号：CN208795653U公开日：20190426
摘要：本实用新型公开一种背景和样品信号同步测量的太赫兹时域光谱系统，包括飞秒激光器、斩波器、M1分束镜、THz发射器、H1抛物面镜、N1反射镜、N2反射镜、H2抛物面镜、M2分束镜、延迟模块、Q1 THz探测器、THz分束镜、H3抛物面镜、Q2 THz探测器、锁相放大器和计算机，延迟模块与计算机之间、斩波器与锁相放大器之间、Q1 THz探测器与锁相放大器之间、Q2THz探测器与锁相放大器之间、锁相放大器与计算机之间采用数据线连接，其余部分为光路部分，采用自由空间传输或光纤耦合传输。通过设计同步测量背景信号和样品信号的光路，使得太赫兹背景信号能够真实反映样品测试过程中的背景波动情况，消除测量过程中背景信号波动对测量结果的影响。
申请人：中国工程物理研究院计量测试中心
地址：621000 四川省绵阳市绵山路64号
国籍：CN
代理机构：北京市盈科律师事务所
代理人：姜智慧
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