专利名称：测量元件及包括该测量元件的测量装置专利类型：实用新型专利发明人：陈芳,李宝刚
申请号：CN201922242012.6申请日：20191213公开号：CN211740475U公开日：20201023
摘要：本公开提供了一种测量元件和测量装置。该测量元件包括基体以及隔片，隔片固定地连接至基体，并且隔片与基体之间限定有密封腔，隔片在其背向密封腔的外侧表面上设置有抗腐蚀层并且隔片在其面向密封腔的内侧表面设置有防氢渗透层。所述测量装置包括上述测量元件。
申请人：艾默生(北京)仪表有限公司
地址：北京市大兴区经济开发区前高米店盛坊路南侧1幢2层
国籍：CN
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司
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