专利名称：核辐射密度计射线强度调节装置专利类型：实用新型专利
发明人：潘晓安,田运雄,沈宇龙,周虎哉,蔡兴琳,张政军,廖庭
龙
申请号：CN200720123090.9申请日：20070626公开号：CN201066387Y公开日：20080528
摘要：本实用新型公开了一种核辐射密度计射线强度调节装置，它包括核辐射密度计的射源(1)和接收探棒(2)，射源(1)和接收探棒(2)之间放置有测量管(3)，其特征在于：在射源(1)和测量管(3)之间设有钢板(4)。本实用新型在射源和测量管之间安装钢板，通过控制钢板插入的块数，调节密度计接收探棒接收到γ射线电磁强度，使之更符合接收探棒的要求，使密度检测更精确。本实用新型能够有效的把密度计接收探棒接收到的射线强度控制在要求的范围内，只采用一个射源，可选择各种型号规格的接收探棒，并且使检测准确可靠。具有结构简单，能调节射线强度，可节约成本，提高检测准确性的，减小密度计对人员身体机能的伤害等优点。
申请人：中国铝业股份有限公司
地址：100814 北京市复兴路乙12号
国籍：CN
代理机构：贵阳中新专利商标事务所
代理人：刘楠
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