专利名称：层叠膜的缺陷检查方法及其装置专利类型：发明专利发明人：大桥宏道,佐藤幸介申请号：CN200880000847.2申请日：20080812公开号：CN101548177A公开日：20090930
摘要：本发明提供层叠膜的缺陷检查方法及其装置。该方法包括：第1检查过程，检查被剥离了保护膜的膜主体的表面是否存在缺陷；分离膜除去过程，自检查后的层叠膜剥离分离膜；第2检查过程，一边沿着朝向纵向的膜行进路径引导被剥离除去了分离膜的膜主体、一边检查纵向姿态的膜主体是否存在缺陷，并存储检测数据；分离膜粘贴过程及保护膜粘贴过程，在检查完毕的膜主体的里面及表面上分别粘贴有分离膜及保护膜；膜回收过程，将粘贴有保护膜及分离膜的检查完毕的层叠膜卷成卷。
申请人：日东电工株式会社
地址：日本大阪府
国籍：JP
代理机构：北京林达刘知识产权代理事务所
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