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一种硅片的清洗方法[发明专利]

2020-07-30 来源:步旅网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种硅片的清洗方法专利类型:发明专利

发明人:金井升,刘长明,叶飞,蒋方丹,金浩申请号:CN201610342011.7申请日:20160520公开号:CN105931947A公开日:20160907

摘要:本发明提供了一种硅片的清洗方法,包括:将待清洗的硅片放置到HF溶液中,然后在溶液中通入臭氧,得到清洗后的硅片。与现有技术相比,本发明将待清洗的硅片放置到HF溶液中,然后在HF溶液中通入臭氧,采用氧化和去氧化结合的方法使硅片表面呈疏水性,可以达到极佳的清洗效果,并且整个过程中除了采用了常规的HF去除氧化层外,并未引入其它的杂质或化学液,清洗成本低廉,可以进行大规模推广。

申请人:浙江晶科能源有限公司,晶科能源有限公司

地址:314416 浙江省嘉兴市海宁市袁花镇袁溪路58号

国籍:CN

代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司

代理人:赵青朵

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