（12）实用新型专利
（21）申请号 CN201420611821.4 （22）申请日 2014.10.21
（71）申请人 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号
（10）申请公布号 CN204241624U
（43）申请公布日 2015.04.01
（72）发明人 周华阳;宋永梁
（74）专利代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 屈蘅
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
击穿电压的测试结构
（57）摘要
本实用新型提供了一种击穿电压的测试结
构，包括需要测试击穿电压的测试样品，与所述测试样品串联的保险丝元件以及电流单向导通元件，所述保险丝元件与电流单向导通元件并联设置；采用斜坡电压法测量击穿电压时，当测试样品上的绝缘层被击穿，瞬时产生的大电流会烧断保险丝元件，防止测试用的探针卡的探针被瞬时大电流烧坏，从而节省了测量的费用；并且由于电流单向导通元件的存在，保险丝单元被烧断之
后电路仍然可以导通从而测量出击穿电压等电学参数。
法律状态
法律状态公告日
2015-04-01
授权
法律状态信息
授权
法律状态
权利要求说明书
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说明书
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