专利名称：发光二极管测试装置专利类型：实用新型专利发明人：王友延,翁思渊,郑智毓申请号：CN201621187827.9申请日：20161028公开号：CN206132926U公开日：20170426
摘要：一种发光二极管测试装置，包含承载盘、紫外光膜、至少一探针与紫外光侦测器。承载盘具有透光部。紫外光膜位于承载盘的透光部上。紫外光膜用以承载紫外光发光二极管并供紫外光发光二极管的紫外光穿过。探针位于承载盘上方。探针用以对紫外光发光二极管供电而使其发出紫外光。紫外光侦测器位于承载盘下方。紫外光侦测器用以接收从紫外光膜与承载盘的透光部穿过的紫外光。当紫外光发光二极管朝紫外光侦测器发出紫外光时，紫外光可穿过紫外光膜与承载盘的透光部而传递至紫外光侦测器。
申请人：致茂电子(苏州)有限公司
地址：215011 江苏省苏州市苏州高新技术产业开发区珠江路855号(第七号厂房)
国籍：CN
代理机构：北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人：徐金国
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