专利名称：一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法专利类型：发明专利
发明人：杨智慧,姜维维,马勇辉申请号：CN201610390112.1申请日：20160603公开号：CN106053023A公开日：20161026
摘要：公开了一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法，包括：确定所述系统中的杂散辐射源，其中，所述杂散辐射源的总个数为N个，所述杂散辐射源包括：光学元件自身的热辐射、机械结构自身的热辐射；对于第i个杂散辐射源，计算其辐射面上辐射的、且能够被探测器接收的辐射功率φ；对φ的传输过程进行分析，计算其在探测器上的辐射照度E；计算N个杂散辐射源在探测器上的总辐射照度E。其中，N为大于1的整数，i＝1,…N。本发明的方法能够对杂散辐射与温度的关系进行定量分析，从而可为不同温度下杂散辐射的抑制提供理论制导。进一步的，通过在不同温度下有效抑制杂散辐射，能够有效提高系统的测量精度。
申请人：北京环境特性研究所
地址：100854 北京市海淀区永定路50号
国籍：CN
代理机构：北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)
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