专利名称：红外透明材料法向光谱发射率测试装置专利类型：发明专利
发明人：毛小建,胡旭,冯明辉,姜本学,张龙申请号：CN201710065972.2申请日：20170206公开号：CN106840411A公开日：20170613
摘要：一种红外透明材料法向光谱发射率测试装置，包括样品加热控温子系统、真空密封子系统、傅里叶红外光谱仪、计算机和标准黑体。本装置可实现中波、短波以及长波红外透明材料发射率在300K‑800K之间的精确测量，具有利用率高、操作简便的特点，能测试不同类型红外透明材料中高温的光谱发射率。
申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所
地址：201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱
国籍：CN
代理机构：上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：张宁展
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