专利名称：一种半导体检测装置专利类型：实用新型专利发明人：不公告发明人申请号：CN201620020936.5申请日：20160112公开号：CN205333836U公开日：20160622
摘要：本实用新型涉及一种半导体检测装置，包括半导体衬底，所述半导体衬底中心设置有绝缘环，所述绝缘环中设置有十字形霍尔元件，所述十字形霍尔元件连接有第一输入端、第二输入端、第一输出端、第二输出端，所述绝缘环两侧分别设置有磁性体安装区，所述磁性体安装区中设置有磁性条。本实用新型结构简单、体积小、重量轻、寿命长、响应速度快、灵敏度高。
申请人：重庆三零三科技有限公司
地址：402560 重庆市铜梁县巴街道办事处北环路川9号2幢4-1
国籍：CN
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