专利名称：基于正交双光栅的同步移相共光路干涉显微检测装
置及检测方法
专利类型：发明专利
发明人：单明广,钟志,郝本功,刁鸣,张雅彬,窦峥申请号：CN201210374744.0申请日：20120929公开号：CN102865811A公开日：20130109
摘要：基于正交双光栅的同步移相共光路干涉显微检测装置及检测方法，属于光学干涉检测技术领域。它解决了现有同步相移干涉显微检测方法中，对检测数据进行处理的过程复杂并且测量精度低的问题。它将干涉显微技术和正交双光栅共光路分光同步移相技术相结合，将准直扩束后的线偏振平行光经第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜分成物光和参考光后最终并排汇合于矩形窗口，计算机通过采集获得一幅含有四个图样的干涉图，最终根据四幅干涉图样的强度分布计算获得待测物体的相位分布。本发明适用于微小物体三维形貌和位相分布测量。
申请人：哈尔滨工程大学
地址：150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号(哈尔滨工程大学体育部)
国籍：CN
代理机构：哈尔滨市松花江专利商标事务所
代理人：张宏威
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