线性系统的校正

线性系统的校正

实验原理及内容:

1.原系统的结构框图及性能指标 结构框图：

模拟电路图：

图1

由图可知系统开环传函：

系统闭环传函：

系统的特征参量：ωn＝ 6.32, ξ＝ 0.158

系统的性能指标：Mp＝60％，ts＝4s，静态误差系数Kv＝20 (1/s)

2．期望校正后系统的性能指标

要求采用串联校正的方法，使系统满足下述性能指标：

Mp≤25％，tS≤1s，静态误差系数Kv≥20 (1/s)

3.校正后的结构框图及性能指标 串联校正环节的传函为： 加校正环节后的系统结构框图为：

mk:@MSITStore:J:\\yy\\HELP.CHM::/线性系统的校正.htm2009/11/23

模拟电路图：

图2

实验步骤:

1. 将信号源单元的“ST”端插针与“S”端插针用“短路块”短接。由于每个运放单元均设置了锁零场效应管，所以运放具有锁零功能。将开关分别设在“方波”档和“500ms～12s”档，调节调幅和调频电位器，使得“OUT”端输出的方波幅值为1V，周期为10s左右。

2．测量原系统的性能指标。

(1) 按图1接线。将1中的方波信号加至输入端。

(2) 用示波器“CH1”和“CH2”表笔测量输入端和输出端，计算响应曲线的超调量MP和调节时间tS。 3. 测量校正系统的性能指标。

(1) 按图2接线。将1中的方波信号加至输入端。

(2) 用示波器“CH1”和“CH2”表笔测量输入端和输出端。计算响应曲线的超调量MP和调节时间tS，是否达到期望值，若未达到，请仔细检查接线 (包括阻容值)。

实验现象分析:

下面列出未校正和校正后系统的动态性能指标：

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